Электронные микроскопы. SEM+EDS

Настольные сканирующие электронные микроскопы широко применяются в лабораториях и на промышленных предприятиях. Электронные микроскопы характеризуются высоким уровнем мощности и позволяют выполнять увеличение до 100 000х. С их помощью можно проводить исследование поверхности объектов с высоким разрешением, определять элементный состав, решать задачи, которые раньше были доступны только напольным электронным микроскопам.


Настольные сканирующие (растровые) электронные микроскопы производства JEOL (Япония) имеют компактные размеры, что позволяет легко перемещать их. Дружественный интерфейс, удобное программное обеспечение, простота управления и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве.


Область применения

Настольные сканирующие электронные микроскопы нашли своё применение в широком спектре областей, таких как:

  • металлургия
  • машиностроение
  • электротехника
  • электроника
  • автомобилестроение
  • химическая и фармацевтическая промышленность
  • контроль качества
  • инспекция продукции на производственных площадках

Совместная разработка компаний JEOL и Nikon – сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 – это уникальный продукт, позволяющий значительно повысить эффективность проводимых исследований и уменьшить затраты на их проведение.



В основе работы микроскопа JEOL JCM-7000 лежит концепция "Easy-to-use" c непрерывной навигацией и анализом в режиме реального времени, которая включает в себя: 

  • Автоматический переход от оптического изображения к СЭМ изображению
  • Отображение элементного состава в режиме реального времени одновременно с просмотром изображения
  • Улучшенные автоматические функции, позволяющие получить чёткое изображение при любом увеличении
  • Режим низкого вакуума (LV) для формирования изображения непроводящих образцов без предварительной подготовки
  • Режим высокого вакуума (HV), позволяющий проводить детальное исследование морфологии
  • Построение 3D модели (Live 3D) во время просмотра изображения
  • SMILE VIEWTM Lab, осуществляющую формирование отчёта на основе информации, полученной из оптического и СЭМ изображений, ЭДС-данных* и местоположения

Простая эксплуатация

JEOL JCM-7000 невероятно прост в обращении и обеспечивает:

  • Автоматический захват оптического изображения при загрузке образца
  • Простой поиск необходимой области измерения благодаря предметному столику с моторизованными приводом XY, наклоном и вращением
  • Обработка данных нажатием одной кнопки

Простота обслуживания

Источником электронов в JEOL JCM-7000 служат вольфрамовый филамент и цилиндр Венельта. Электронная пушка данного СЭМ использует предварительно центрированный картридж с интегрированным цилиндром Венельта. Картридж заменяется целиком, это позволяет ускорить процесс и при этом сохранить правильное положение филамента. Кроме того, возможна замена филамента внутри картриджа.


В стандартном СЭМ при замене филамента требуется выравнивание оси электронного луча. Если не произвести данную регулировку, то будет сложно получить чёткое изображение. В JEOL JCM-7000 выравнивание оси луча полностью автоматизировано.

Zeromag

JEOL JCM-7000 осуществляет плавный переход от оптического к СЭМ изображению. Просто найдите необходимую область обзора на оптическом изображении, а затем увеличьте нужный элемент для автоматического перехода к изображению СЭМ.


Live 3D

JCM-7000 отображает СЭМ и 3D изображения в режиме реального времени одновременно. Кроме того, для быстрого определения формы образцов со сложной топографией, могут быть получены данные об их толщине.


Live analysis и Live map

Благодаря анализу в режиме реального времени, наблюдение СЭМ и элементного ЭДС- анализа* больше не являются отдельными операциями. JCM-7000 также обладает функцией наблюдения за пространственным распределением элементов в моменте Live Map. JCM-7000 осуществляет:

  • Детальный анализ образца
  • Автоматический качественный и количественный анализ полученного спектра
  • Отображение карт распределения элементов области наблюдения

SMILE VIEW Lab

Экран управления данными SMILE VIE Lab позволит вам с лёгкостью работать с информацией. Особенности SMILE VIE Lab:

  • Интегрированное управление Zeromag (оптическим изображением)/изображением СЭМ/результатами ЭДС анализа*
  • Позволяет мгновенно определять данные в наблюдаемой области
  • Разнообразные функции поиска данных
  • Автоматическая установка правильного макета для выбранного типа данных
  • Простая модификация макета

* Система ЭДС является дополнительным оборудованием



Показано с 1 по 3 из 3 (всего 1 страниц)