Электронные микроскопы SEM+EDS JEOL (Япония)
Настольные сканирующие электронные микроскопы широко применяются в лабораториях и на промышленных предприятиях. В данный момент линейка JEOL представлена последней разработкой новейшего поколения - сканирующим электронным микроскопом JEOL JCM 7000.
Электронный микроскоп JEOL JCM 7000 позволяет выполнять исследования на увеличения до 100 000х, определять элементный состав и характеризуется простотой эксплуатации и низкой стоимостью обслуживания. С помощью JEOL JCM 7000 Вы можете проводить исследование и решать задачи, которые раньше были доступны только напольным электронным микроскопам.
Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп (СЭМ) JCM 7000 производства JEOL (Япония) имеет компактные размеры, мобилен к перемещениям. Дружественный интерфейс, удобное программное обеспечение, простота управления и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве, для многих из которых совсем не требуются дорогостоящие напольные сканирующие электронные микроскопы.
Показано с 1 по 3 из 3 (всего 1 страниц)