Атомно-силовые микроскопы

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) - это один из методов микроскопии применяемый для нанометрового масштаба, получивший широкое распространение благодаря своей универсальности и сравнительно невысокой стоимости.

Базовые принципы АСМ

Упругая консоль микронного размера (кантилевер) имеет заостренный конический зонд на свободном конце. Острие зонда, характерный размер которого составляет не более 10 нм, сканирует поверхность образца на очень коротком нанометровом расстоянии. Когда зонд движется вдоль поверхности, Вандерваальсовы силы межатомного взаимодействия между коником зонда и поверхностью образца меняются, что приводит к вертикальным смещениям кантилевера, которые в свою очередь регистрируются оптическим методом. Отраженный от тыльной стороны кантилевера луч лазера попадает на четырехсекционный фотодиод. Таким образом, выходные сигналы с секций фотодиода соотносятся с вертикальными перемещениями кантилевера, которые в свою очередь отражают топографию поверхности образца.