Растровый электронный микроскоп Coxem EM-30AX PLUS

  • Производитель:
  • EDAX:
    133 эВ с MnK, Be(4) ~U(92)
  • Размеры:
    400 (Ш) x 600 (Д) x 550 (В) мм
  • Смещение изображения:
    X, Y, R (вращение)
  • ЭДС:
    Oxford: 130 эВ с MnK, C(6) ~ U(92)
  • Электронная пушка:
    Вольфрамовый филамент (W)
  • Увеличение:
    x20-x150 000 (эффективное: ~x80 000)
  • Ускоряющее напряжение:
    1 ~ 30 кВ (с шагом 1 кВ)
  • Столик:
    моторизированный - (X: 35 мм, Y: 35 мм, T: 0-45°) / с ручным приводом - (Z: 5-50 мм)
  • Детекторы:
    SE, BSE (4-канальный, твердотельный)
Цена по запросу

Растровые электронные микроскопы (РЭМ) используются для исследования микроструктуры поверхности, количественного элементного анализа в точке наблюдения как природных объектов, так и искусственных материалов.


ЭДС


OXFORD


  • Аналитическое ПО Tru-Q использует множество алгоритмов, чем обеспечивает точные результаты
  • Поддержка нескольких языков
  • Быстрый и простой анализ с меню типа блок-схемы
  • Типы элементного анализа: в точке или области, по линии, картирование, наложение линий, коррекция фона.
  • Количественный анализ: по линии, картирование


EDAX


  • Кремний дрейфовый детектор высокой производительности
  • Площадь сенсора: 30 мм2
  • Точный анализ лёгких элементов, диапазон анализа: от Be (4) до Am (95)
  • Типы элементного анализа: в точке или области, по линии, картирование


Преимущества


OXFORD


Отчеты и сохранение данных В библиотеке ПО хранятся готовые шаблоны отчётов. Для создания новых используется генератор отчётов.
Данные можно хранить, копировать, распечатывать и отправлять по электронной почте из программы анализа.

Отчёты ЭДС


Программа предлагается на различных языках, включая корейский, английский, японский, упрощенный китайский, русский, французский и португальский.

Быстрые и эффективные результаты анализа в промышленности

Программа позволяет определять элементный состав образца вдоль линии, задаваемой пользователем.
Для устранения наложения пиков и отсеивания ложных флуктуаций, связанных с фоновым рентгеновским излучением, выполняется коррекция результатов.

Анализ в точке и области

Спектр, отражающий элементный состав образца, можно получать из отдельных точек или областей.


EDAX


Отчеты и сохранение данных Окно из нитрида кремния обеспечивает повышенную чувствительность в определении лёгких элементов на низких энергиях.

Отчёты ЭДС


Система управления данными TEAM™ EDS Smart предлагает новый уровень простоты и гибкости, благодаря динамическим отчётам и упрощённому управлению файлами.

Быстрые и эффективные результаты анализа в промышленности

Все результаты доступны в любое время, так же как и точная интерпретация спектров и данных микроэлементного анализа и количественного картирования


Применение


  • Производство смартфонов
  • Электроника и микроэлектроника
  • Химическая промышленность
  • Строительство
  • Солнечная энергетика
  • Металлы Биоинженерия

Теги: Растровый электронный микроскоп Coxem EM-30AX PLUS