Сканирующий электронный микроскоп EM8100Pro
- Производитель:
- 1
- Разрешение:1 нм при 30 кВ (детектор вторичных электронов SE). 3 нм при 1 кВ (детектор вторичных электронов SE). 2,5 нм при 30 кВ (детектор обратно-рассеянных электронов BSE)
- Увеличение:х 6 до ~ 1 000 000
- Ускоряющее напряжение:0 ~ 30кВ
- Столик:5-ти осевой эвцентрический моторизованный
- Детекторы:Детектор вторичных электронов Выдвижной 4-х сегментный детектор обратно-рассеянных электронов полупроводникового типа
- Макс. размер образца:340 мм
Цена по запросу
Сканирующий электронный микроскоп EM8100Pro
Сканирующий электронный микроскоп EM8100Pro с полевой эмиссией имеет разрешение 1.5нм@15кВ ( SE ).
EM8100Pro - это флагман электронных микроскопов с катодом Шоттки, с возможностью ускорения и торможения электронного пучка на столике образцов, с различными вакуумными режимами доступными для наблюдения непроводящих образцов, в том числе биологических.
ПРЕИМУЩЕСТВА:
- Катод Шоттки – высокая яркость, хорошая монохроматичность, маленький размер пучка, долгий срок службы
- Стабильный ток пучка, небольшой разброс по энергии
- Возможность ускорения и торможения пучка электронов
- Возможность работы с непроводящими образцами в режиме низких ускоряющих напряжений
- Возможность работы с большими образцами
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Модель | KYKY-EM8100 |
Разрешение | 1нм@30кВ(SE) 3нм@1кВ(SE) 2,5нм@30кВ(BSE) |
Увеличение | 6X ~ 1000000X |
Электронная пушка | Типа Шоттки |
Ускоряющее напряжение | 0 ~ 30кВ |
Детекторы | · Детектор вторичных электронов · Выдвижной 4-х сегментный детектор обратно-рассеянных электронов полупроводникового типа |
Столик | 5-ти осевой эвцентрический моторизованный |
Диапазон перемещений | · X 0 ~ 150мм · Y 0 ~ 150мм · Z 0 ~ 60мм · R 360° · T-5° ~ 75° |
Максимальный диаметр образца | 340 мм |
Аксессуары | Рентгеновский энерго-дисперсионный микроанализатор (EDS), EBSD, CL, WDS, напылитель и др. |
Модификации | EBL; STM; AFM; Нагревательный столик; крио-столик; столик для мех. испытаний; микро-нано манипуляторы |
Модель | KYKY-EM8100 |
Разрешение | 1нм@30кВ(SE) 3нм@1кВ(SE) 2,5нм@30кВ(BSE) |
Увеличение | 6X ~ 1000000X |
Электронная пушка | Типа Шотки |
Ускоряющее напряжение | 0 ~ 30кВ |
Детекторы | · Детектор вторичных электронов · Выдвижной 4-х сегментный детектор обратно-рассеянных электронов полупроводникового типа |
Столик | 5-ти осевой эвцентрический моторизованный |
Диапазон перемещений | · X 0 ~ 150мм · Y 0 ~ 150мм · Z 0 ~ 60мм · R 360° · T-5° ~ 75° |
Максимальный диаметр образца | 340 мм |
Аксессуары | Рентгеновский энерго-дисперсионный микроанализатор (EDS), EBSD, CL, WDS, напылитель и др. |
Модификации | EBL; STM; AFM; Нагревательный столик; крио-столик; столик для мех. испытаний; микро-нано манипуляторы |