Инвертированный микроскоп Nikon Eclipse MA200

Цена по запросу

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon MA200 ‑ старшая модель в линейке инвертированных микроскопов Nikon. Микроскоп разрабатывался для проведения исследований в светлом и темном поле, ДИК поляризации и поляризованном свете.


Nikon MA200 ‑ это микроскоп исследовательского класса, способный решить практически любую задачу.


Конструкторы Nikon позаботились не только о превосходных технических характеристиках микроскопа, огромное значение было придано дизайну и эргономике. Конструкция тубуса позволяет оператору принять анатомически удобное положение и сосредоточиться на работе.


При фотодокументировании гарантируется получение высококонтрастного и яркого изображения высокого разрешения при любом увеличении, это достигается благодаря высококачественной оптике Nikon и специально разработанным сериям объективов CFI и CFI 2 с коррекцией на бесконечность.


Результатом многолетних разработок в области конструирования галогенных источников света, стал новый источник света мощностью 50 Вт. с небольшими колебаниями цветовой температуры при изменении интенсивности освещения. Данный источник света позволяет получать качественные контрастные и яркие изображения, как и при использовании осветителя мощностью 100 Вт.


Широкий ассортимент компонентов (специализированные объективы, окуляры, револьверные устройства, ДИК призмы и д.р.), в зависимости от задач стоящих перед специалистом, позволяет получить микроскоп, как под решение узкоспециализированных задач, так и создать универсальный исследовательский комплекс.


Управление полевой и апертурной диафрагмами осуществляется автоматически при смене режимов контрастирования. Элементы управления микроскопом расположены на передней панели, что обеспечивает информативность и удобство управления.


Компактные размеры микроскопа, объективы Nikon с высокими числовыми апертурами и большими рабочими расстояниями ‑ идеальный выбор, как для исследовательского микроскопа, так и для решения производственных задач. Например, для организации поточного контроля качества изделий и материалов на производстве. Это особенно важно для изделий, к которым предъявляются высокие требования по качеству материалов.


Микроскоп Nikon Eclipse MA200 хорошо зарекомендовал себя при анализе материалов в машиностроительной и металлургической отраслях, а также в автомобильной, аэрокосмической и электронной промышленности.



Штатив Механизм фокусировки Перемещение турели (столик не подвижен). Коаксиальная ручка грубой/точной фокусировки (с регулировкой усилия)
Грубая фокусировка 4.0 мм за оборот, точная фокусировка 0.2 мм на оборот
Осветитель Предотвращает паразитную засветку, встроенный фильтр отсечки УФ.
Полевая/апертурная диафрагма с плавной регулировкой значения (центрируемая)

Фильтры: ND16, ND4/GIF, NCB, доступны другие опции; Модуль поляризации (с 1/4 λ-пластиной или без);

Модуль флюоресценции: B/G/V/BV;

Встроенный источник 12В 50Вт галогенная лампа;

C-HGFI HG Оптоволоконный осветите

Световой поток Окуляры/Оптический фото-выход: 100/0, 55/45
Оптическая система CFI60/CFI60-2 системы с корректировкой на бесконечность
Тип оптической системы Инвертированная
Методы исследования Светлое поле, темное поле, поляризация, ДИК, флуоресценция
Турель

LV-NU5I: Светлое поле/Темное поле/ДИК на 5 объективов;

LV-NU5A: Моторизованная Светлое поле/Темное поле/ДИК на 5 объективов

MA-N7-I Светлое поле 7 позиций (интеллектуальная)
Предметный столик MA2-SR Механический столик(X/Y гибкая рукоятка перемещения) Размеры: 295×215 мм, перемещение: 50 × 50 мм (с контролем расстояния)
Стандартные принадлежности: универсальная вставка ø22 (с клипсой для фиксации образца)
Тринокулярный тубус С регулировкой межзрачкового расстояния 50-75 мм
Электропитание 100-240 В, 50-60 Гц
Энергопотребление 1,2 A, 75 Вт
Вес Приблизительно 26 кг (зависит от комплектации)

Опции

Промежуточное увеличение Револьвер (1×, 1.5×, 2×), определение итогового увеличения (вывод на модуль управления)
Шкалы MA2-GR Шкала (ASTM E112-63 балл зерна от 1 до 8), Сетка (20 линий, шаг 0.5 мм)
MA2-MR Шкала
 Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
МИКРОЭЛЕКТРОНИКАМеньше, дешевле, быстрее - то, что постоянно заботит производителей микроэлектронных устройств. В микроэлектронике каждое новое поколение продуктов должно превосходить предшественников, уменьшаясь в размерах без существенного увеличен..
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИНКак известно, избежать растрескивания и разрушения продуктов при их эксплуатации чрезвычайно сложно. Данная проблема актуальная практически для всех отраслей промышленности. Поэтому контроль качества при производстве и тестирование издел..
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВАВ данной статье пойдет речь о контроле качества изделий из металла. В данной области промышленности наравне с другими сферами производства контроль качества имеет важнейшее значение. Специалисты отдела технического контроля предприят..
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИВ металлургической промышленности, как и в других сферах производства, контроль качества продукции имеет первостепенное значение. Недостатки в качестве металла ведут к серьезным ухудшениям производительнос..
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИЗа последнее время технологии изготовления жидкокристаллических (ЖК) дисплеев получили бурное развитие благодаря их активному использованию в мобильных устройствах. ЖК-дисплеи необходимы также при производстве мультимедийн..
MEMS и NEMS
MEMS и NEMS
MEMS и NEMSВ сегодняшнем мире размеры электронных изделий и компонентов уменьшаются с каждым годом. В таких условиях MEMS (микроэлектромеханические системы) и NEMS (наноэлектромеханические системы) становятся технологическими стандартами. Устройства..
Числовая апертура и разрешающая способность
Числовая апертура и разрешающая способность
В этом руководстве исследуется влияние числовой апертуры объектива на разрешение концентрических ярких колец. ЧИСЛОВАЯ АПЕРТ..

Теги: Инвертированный микроскоп Nikon Eclipse MA200