Вебинар: Современные методы анализа в сканирующей электронной микроскопии

Приглашаем Вас принять участие в нашем онлайн-вебинаре: Современные методы анализа в сканирующей электронной микроскопии

Дата UPD: 5 марта

Время: 10:00 (по московскому времени)

Формат: онлайн

Сканирующая электронная микроскопия сегодня - это мощная аналитическая платформа, объединяющая высокоразрешающую визуализацию и широкий спектр методов исследования структуры и состава материалов.

На вебинаре мы подробно рассмотрим современные методы анализа, реализуемые в СЭМ, а также обсудим доступные детекторы и дополнительные опции, расширяющие возможности прибора.

В программе:

• Принципы формирования сигнала и основные режимы работы СЭМ.
• Методы получения морфологической и топографической информации (SE, BSE).
• Элементный микроанализ и картирование (EDS).
• Кристаллографический и фазовый анализ (EBSD).
• Работу в различных вакуумных режимах и исследованиях чувствительных образцов.
• Практические рекомендации во выбору конфигурации СЭМ и периферийных устройств для подготовки образцов под задачи лаборатории.
• Как эффективно комбинировать методы анализа для получения максимально полной информации о структуре, составе и свойствах исследуемых материалов.

Вебинар будет полезен исследователям, специалистам аналитических лабораторий, инженерам и всем, кто заинтересован в расширении аналитических возможностей сканирующей электронной микроскопии.

Для регистрации, пожалуйста, перейдите и зарегистрируйтесь по кнопке ниже

Будем рады видеть Вас среди участников!

С уважением, Команда Люкон Про