Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV150

  • Производитель:
  • Тип микроскопа:
    Прямой
  • Класс микроскопа:
    Исследовательский
  • Область применения:
    Материаловедение, металлография, петрография, криминалистика, микроэлектроника , промышленность и др.
  • Методы исследования:
    В отраженном свете
  • Методы получения изображения:
    Светлое поле/темное поле/фазовый контраст/поляризация/ДИК-метод/флуоресценция/др.
  • Класс объективов:
    Полуапохроматический/ апохроматические
  • Диапазон увеличений:
    х50-х2000
  • Вывод изображения:
    Есть (тринокуляр).
  • Освещение:
    Галогеновый / LED (cветодиодный) в исполнении LV150NL
  • Особенности:
    Осветитель падающего света: галогенная лампа мощностью 50 Вт, с реализованной технологией «Глаз мухи», позволяющей значительно выровнять поле освещенности и увеличить яркость освещения даже в сравнении с обычными 100Вт источниками
Цена по запросу

Прямые микроскопы Nikon Eclipse LV150 обеспечивают высокую производительность при решении производственных задач. Например, при входном контроле, или при поточном контроле качества изделий и материалов на производстве, что особенно важно для изделий, к которым предъявляются высокие требования по качеству.


Выпускается три модификации промышленных микроскопов Nikon Eclipse LV150:


  • LV150NA ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и в поляризованном свете. Микроскоп Nikon LV150NA может быть оснащен моторизированной системой фокусировки и возможностью установки моторизированного предметного стола (например, стол PRIOR PS III). LV150NА с универсальным моторизованным револьвером идеально подходит для работ с полупроводниками, например, на производстве солнечных батарей, или полупроводниковых пластин.
  • LV150 ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и в поляризованном свете без моторизации. Микроскоп LV150 оснащен электростатической защитой класса IPX1 (защита от напряжения 10-1000 V, время стекания заряда 0,2 с.), что позволяет проводить работы с магнитными материалами.
  • LV150NL ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и в поляризованном свете без моторизации. Микроскоп Nikon LV150NL оснащен электростатической защитой класса IPX1 (защита от напряжения 10-1000 V, время стекания заряда 0,2 с.) и светодиодным источником света. Данная модель микроскопа оснащается новым LED-источником освещения, который позволяет получить более равномерное освещение поля зрения, а также снизить энергопотребление и увеличить срок службы осветителя.


Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на больших и сверхбольших расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом, парфокальное расстояние стало меньше, а размеры и вес объективов уменьшились.


Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в различных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа, что, в сочетании с высококачественной оптикой Nikon, обеспечивает гибкость и универсальность микроскопа в эксплуатации.


Элементы управления расположены в передней части микроскопа, эргономичная конструкция наклонного тринокулярного тубуса (распределение светового потока 100:0/20:80) позволяет оператору принять анатомически правильное положение и сосредоточиться на работе.


Специальный механизм рефокусировки предотвращает повреждение объектива при касании образца.


Широкий ассортимент компонентов (специализированные объективы, окуляры, револьверные устройства, ДИК призмы и д.р.) в зависимости от задач стоящих перед специалистом, позволяет получить как микроскоп для решения узкоспециализированных задач, так и создать универсальный исследовательский комплекс.


Управление револьвером расположено под предметным столиком, что предотвращает загрязнение объектива при его смене. Теперь нет необходимости касаться руками столика.


В качестве источника света для моделей серии LV150N и LV150NA используется новый прецентрированный галогенный осветитель мощностью 50 Вт.


Микроскоп Nikon Eclipse LV150 хорошо зарекомендовал себя при анализе материалов на производстве полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек и многих других изделий.


Методы исследования

Светлое поле

Темное поле

Дифференциально интерференционный контраст

Флуоресценция

Поляризация

Двухлучевая интерферометрия

Осветители Отраженный свет
Базовый блок

Максимальная высота образца: 38 мм;

Адаптер для увеличения рабочего расстояния LV-CR: 35 мм;

Слева: грубая и точная фокусировка / Справа: точная фокусировка, ход 40 мм;

Грубая фокусировка: 14 мм / оборот (с регулировкой крутящего момента, механизм перефокусировки);

Точная фокусировка: 0,1 мм / оборот (шаг: 1 мкм);

Револьвер объективов Пятиместный универсальный револьвер для работы в темном и светлом поле, а также поляризации, флуоресценции и ДИК-контраста
Эпископический осветитель

Корпус лампы для осветителя падающего света прецентрированный;

Осветитель падающего света: галогенная лампа мощностью 50 Вт, напряжением 12 В с реализованной технологией «Глаз мухи», позволяющей значительно выровнять поле освещенности и увеличить яркость освещения даже в сравнении с обычными 100Вт источниками;

Слайдер с фильтрами нейтральной оптической плотности для падающего света для уменьшения интенсивности светового потока в 4 и 16 раз;

Цветобалансирующий фильтр для падающего света

Окулярный тубус

Тринокулярный с регулировкой угла наклона окуляров;

Бинокулярный тубус

Предметный столик

LV-S32 3x2 (ход: 75 х 50 мм, стеклянная пластина)

LV-S64 6x4 (ход: 150 х 100 мм, стеклянная пластина)

LV-S6 6x6 (ход: 150 х 150 мм)

Окуляр CFI серия
Потребляемая мощность 1,2 А, 75 Вт
Вес Около 8,6 кг

 Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
МИКРОЭЛЕКТРОНИКАМеньше, дешевле, быстрее - то, что постоянно заботит производителей микроэлектронных устройств. В микроэлектронике каждое новое поколение продуктов должно превосходить предшественников, уменьшаясь в размерах без существенного увеличен..
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИНКак известно, избежать растрескивания и разрушения продуктов при их эксплуатации чрезвычайно сложно. Данная проблема актуальная практически для всех отраслей промышленности. Поэтому контроль качества при производстве и тестирование издел..
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВАВ данной статье пойдет речь о контроле качества изделий из металла. В данной области промышленности наравне с другими сферами производства контроль качества имеет важнейшее значение. Специалисты отдела технического контроля предприят..
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИВ металлургической промышленности, как и в других сферах производства, контроль качества продукции имеет первостепенное значение. Недостатки в качестве металла ведут к серьезным ухудшениям производительнос..
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИЗа последнее время технологии изготовления жидкокристаллических (ЖК) дисплеев получили бурное развитие благодаря их активному использованию в мобильных устройствах. ЖК-дисплеи необходимы также при производстве мультимедийн..
MEMS и NEMS
MEMS и NEMS
MEMS и NEMSВ сегодняшнем мире размеры электронных изделий и компонентов уменьшаются с каждым годом. В таких условиях MEMS (микроэлектромеханические системы) и NEMS (наноэлектромеханические системы) становятся технологическими стандартами. Устройства..

Рекомендуемые товары

Теги: Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV150