Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV100

Цена по запросу

Прямые микроскопы Nikon Eclipse LV100 обеспечивают высокую производительность. Например, при входном контроле или при поточном контроле качества изделий и материалов на производстве, что особенно важно для изделий, к которым предъявляются высокие требования по качеству.


Микроскоп выпускается в двух модификациях:


  • LV100DA-U ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и поляризованном свете. Микроскоп Nikon LV100DA-U оснащен моторизированной системой фокусировки и возможностью установки моторизированного предметного стола (например, стол PRIOR PS III). Модель LV100DA-U укомплектована 5-ти позиционным моторизованным револьвером объективов.
  • LV100ND ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и поляризованном свете без моторизации.


Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на больших и сверхбольших рабочих расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом, парфокальное расстояние стало меньше, а размеры и вес объективов также уменьшились.


Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в разных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа, что в сочетании с высококачественной оптикой Nikon, обеспечивает гибкость и универсальность микроскопа в эксплуатации.


Элементы управления расположены в передней части микроскопа, эргономичная конструкция наклонного тринокулярного тубуса (распределение светового потока 100:0/20:80), позволяет оператору принять анатомически правильное положение и сосредоточиться на работе.


Специальный механизм рефокусировки предотвращает повреждение объектива при касании образца.


Широкий ассортимент компонентов для Nikon Eclipse LV100 (специализированные объективы, окуляры, револьверные устройства, ДИК-призмы и д.р.), в зависимости от задач, стоящих перед специалистом, позволяет получить как микроскоп для решения узкоспециализированных задач, так и создать универсальный исследовательский комплекс.


Методы исследования

Светлое поле

Темное поле

Дифференциально интерференционный контраст

Флуоресценция (только в отраженном свете)

Поляризация

Фазовый контраст (только в проходящем свете)

Двухлучевая интерферометрия (только в отраженном свете)

Осветители Отраженный свет / проходящий свет
Базовый блок

Максимальная высота образца: 38 мм;

Адаптер для увеличения рабочего расстояния LV-CR: 35 мм;

Слева: грубая и точная фокусировка / Справа: точная фокусировка, ход 40 мм;

Грубая фокусировка: 14 мм / оборот (с регулировкой крутящего момента, механизм перефокусировки);

Точная фокусировка: 0,1 мм / оборот (шаг: 1 мкм);

Револьвер объективов Пятиместный универсальный револьвер для работы в темном и светлом поле, а также поляризации, флуоресценции и ДИК-контраста
Эпископический осветитель

Корпус лампы для осветителя падающего света прецентрированный;

Осветитель падающего света: галогенная лампа мощностью 50 Вт, напряжением 12 В с реализованной технологией «Глаз мухи», позволяющей значительно выровнять поле освещенности и увеличить яркость освещения даже в сравнении с обычными 100 Вт источниками;

Слайдер с фильтрами нейтральной оптической плотности для падающего света для уменьшения интенсивности светового потока в 4 и 16 раз;

Цветобалансирующий фильтр для падающего света

Окулярный тубус

Тринокулярный с регулировкой угла наклона окуляров;

Бинокулярный тубус

Предметный столик

LV-S32 3x2 (ход: 75 х 50 мм, стеклянная пластина)

LV-S64 6x4 (ход: 150 х 100 мм, стеклянная пластина)

LV-S6 6x6 (ход: 150 х 150 мм)

Окуляр CFI серия
Потребляемая мощность 1,2 А, 75 Вт
Вес Около 8,6 кг

 Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
МИКРОЭЛЕКТРОНИКАМеньше, дешевле, быстрее - то, что постоянно заботит производителей микроэлектронных устройств. В микроэлектронике каждое новое поколение продуктов должно превосходить предшественников, уменьшаясь в размерах без существенного увеличен..
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИНКак известно, избежать растрескивания и разрушения продуктов при их эксплуатации чрезвычайно сложно. Данная проблема актуальная практически для всех отраслей промышленности. Поэтому контроль качества при производстве и тестирование издел..
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВАВ данной статье пойдет речь о контроле качества изделий из металла. В данной области промышленности наравне с другими сферами производства контроль качества имеет важнейшее значение. Специалисты отдела технического контроля предприят..
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИВ металлургической промышленности, как и в других сферах производства, контроль качества продукции имеет первостепенное значение. Недостатки в качестве металла ведут к серьезным ухудшениям производительнос..
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИЗа последнее время технологии изготовления жидкокристаллических (ЖК) дисплеев получили бурное развитие благодаря их активному использованию в мобильных устройствах. ЖК-дисплеи необходимы также при производстве мультимедийн..
MEMS и NEMS
MEMS и NEMS
MEMS и NEMSВ сегодняшнем мире размеры электронных изделий и компонентов уменьшаются с каждым годом. В таких условиях MEMS (микроэлектромеханические системы) и NEMS (наноэлектромеханические системы) становятся технологическими стандартами. Устройства..

Теги: Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV100