Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L300 наиболее востребован на производстве полупроводников, жидкокристаллических панелей и солнечных батарей.

Микроскоп выпускается в двух модификациях.

1. Eclipse L300A ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, ДИК и поляризованном свете (для работы только в отраженном свете).

Характеристики:

  • моторизованный 6-ти позиционный револьвер с центровкой объективов; есть возможность подключения моторизированной системы фокусировки, автоматическое управление полевой и апертурной диафрагмами;
  • три типа осветителей: галогенный 100 Вт (150 Вт) и ксеноновый 75 Вт;
  • специализированный столик с перемещением по XY 354 х 268 мм и набором вставок;
  • управление микроскопом вынесено на переднюю панель; имеется возможность подключения дистанционного пульта, что в совокупности с автоматической системой подачи образцов позволяет построить полностью автоматизированный комплекс контроля качества.

2.  Eclipse L300ND ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и в поляризованном свете (для работы в отраженном и проходящем свете).

Характеристики:

  • моторизованный 6-ти позиционный револьвер с центровкой объективов и ДИК слотом, встроенная моторизированная система фокусировки, автоматическое управление полевой и апертурной диафрагмами;
  • галогенный осветитель 100Вт с набором нормализующих и светопропускающих фильтров (NCB, GIF, ND);
  • специализированный столик с перемещением по XY 354х268 мм и набором вставок;
  • управление микроскопом вынесено на переднюю панель.

Микроскоп Eclipse L300 предназначен для контроля полупроводниковых пластин, печатных плат, фотошаблонов, сеток, трафаретов и различных подложек.

Благодаря высокой степени автоматизации микроскопа Eclipse L300 значительно сокращается время на исследование одного образца, что в итоге значительно увеличивает производительность.

Специально разработанная линейка универсальных план флюорит объективов с высокими числовыми апертурами обеспечивают потрясающе четкие и высококонтрастные изображения с минимумом засветок, при больших рабочих расстояниях.

Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на  сверхбольших расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом парфокальное расстояние стало меньше, размеры и вес объективов также уменьшились.

Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в разных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа. Специальное антистатическое покрытие предотвращает попадание инородных частиц на образец.

Механизм управления предметным столом для прецизионного перемещения по осям XY расположен так, что позволяет управлять перемещением стола и фокусировкой микроскопа одной рукой.

Разница между микроскопами Eclipse L300 и Eclipse L200 только в размерах предметного стола и, как следствие, в возможности проводить инспекцию пластин большей площади.

Nikon Eclipse L300 ‑ это необходимый инструмент для контроля качества полупроводниковых пластин.

Теги: Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200