Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Jeol JCM 7000 NeoScope

Цена по запросу

Совместная разработка компаний JEOL и Nikon сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 – это уникальный продукт, позволяющий значительно повысить эффективность проводимых исследований и уменьшить затраты на их проведение.




В основе работы микроскопа JEOL JCM-7000 лежит концепция "Easy-to-use" c непрерывной навигацией и анализом в режиме реального времени, которая включает в себя:

  • Автоматический переход от оптического изображения к СЭМ изображению
  • Отображение элементного состава в режиме реального времени одновременно с просмотром изображения
  • Улучшенные автоматические функции, позволяющие получить чёткое изображение при любом увеличении
  • Режим низкого вакуума (LV) для формирования изображения непроводящих образцов без предварительной подготовки
  • Режим высокого вакуума (HV), позволяющий проводить детальное исследование морфологии
  • Построение 3D модели (Live 3D) во время просмотра изображения
  • SMILE VIEWTM Lab, осуществляющую формирование отчёта на основе информации, полученной из оптического и СЭМ изображений, ЭДС-данных* и местоположения


Простая эксплуатация

JEOL JCM-7000 невероятно прост в обращении и обеспечивает:


  • Автоматический захват оптического изображения при загрузке образца
  • Простой поиск необходимой области измерения благодаря предметному столику с моторизованными приводом XY, наклоном и вращением
  • Обработка данных нажатием одной кнопки


Простота обслуживания

Источником электронов в JEOL JCM-7000 служат вольфрамовый филамент и цилиндр Венельта. Электронная пушка данного СЭМ использует предварительно центрированный картридж с интегрированным цилиндром Венельта. Картридж заменяется целиком, это позволяет ускорить процесс и при этом сохранить правильное положение филамента. Кроме того, возможна замена филамента внутри картриджа.

В стандартном СЭМ при замене филамента требуется выравнивание оси электронного луча. Если не произвести данную регулировку, то будет сложно получить чёткое изображение. В JEOL JCM-7000 выравнивание оси луча полностью автоматизировано.


Zeromag

JEOL JCM-7000 осуществляет плавный переход от оптического к СЭМ изображению. Просто найдите необходимую область обзора на оптическом изображении, а затем увеличьте нужный элемент для автоматического перехода к изображению СЭМ.




Live 3D

JCM-7000 отображает СЭМ и 3D изображения в режиме реального времени одновременно. Кроме того, для быстрого определения формы образцов со сложной топографией, могут быть получены данные об их толщине.




Live analysis и Live map

Благодаря анализу в режиме реального времени, наблюдение СЭМ и элементного ЭДС- анализа* больше не являются отдельными операциями. JCM-7000 также обладает функцией наблюдения за пространственным распределением элементов в моменте Live Map. JCM-7000 осуществляет:


  • Детальный анализ образца
  • Автоматический качественный и количественный анализ полученного спектра
  • Отображение карт распределения элементов области наблюдения


SMILE VIEW Lab

Экран управления данными SMILE VIE Lab позволит вам с лёгкостью работать с информацией. Особенности SMILE VIE Lab:


  • Интегрированное управление Zeromag (оптическим изображением)/изображением СЭМ/результатами ЭДС анализа*
  • Позволяет мгновенно определять данные в наблюдаемой области
  • Разнообразные функции поиска данных
  • Автоматическая установка правильного макета для выбранного типа данных
  • Простая модификация макета


* Система ЭДС является дополнительным оборудованием

JEOL JCM-7000 – многофункциональный сканирующий электронный микроскоп, широкий набор универсальных функций которого позволяет решать большое количество разнообразных задач.

Анализ металлов

C JEOL JCM-7000 наблюдение деталей поверхности образцов проводящих металлов может быть выполнено в режиме вторичных электронов.

С помощью СЭМ JCM-7000 можно анализировать детали пластичного или хрупкого разрушения, включая морфологию поверхности разрушения, элементный анализ* материалов, присутствующих в начальной точке разрушения, и осуществлять идентификацию вкраплений в металле.

Пример:
Исследование морфологии металлического излома.



Анализ порошков

Настольный сканирующий электронный микроскоп JEOL JCM-7000 позволяет идентифицировать элементы*, входящие в состав порошка, а также получить детальную информацию о его морфологии, диаметре частиц и адгезии.

Пример:
Наблюдение и анализ оксидного порошка на углеродном материале.



Работа с печатными платами

Режим низкого вакуума СЭМ JCM-7000 подходит для исследования печатных плат (композитный материал). Благодаря этому наблюдение и анализ могут осуществляться без проводящего покрытия. Функция 3D изображения реального времени позволяет отображать изображение СЭМ и 3D модель, реконструированную с поверхности одновременно.

Пример:
Трехмерное изображение дефекта на контактной площадке печатной платы



Анализ пластичного или хрупкого разрушения стекла

В случае пластичного или хрупкого разрушения прозрачного стекла или пластика трудно оценить состояние его верхней поверхности с помощью оптического микроскопа.

Наблюдение с помощью растрового электронного микроскопа JEOL JCM-7000 позволяет легко найти начальную точку трещины и детально изучить морфологию её поверхности.

Пример:
Наблюдение за морфологией разрушения стекла.



Анализ волокнистых материалов

Нанесение проводящего покрытия на волокна со сложной структурой довольно затруднительно. Режим низкого вакуума РЭМ JCM-7000 упрощает исследование морфологии, а также анализ инородных материалов*.

Пример:
Наблюдение и анализ инородного материала на поверхности ковра.



Определение асбеста

JEOL JCM-7000 позволяет определять наличие или отсутствие асбеста в строительных материалах путем объединения результатов морфологического наблюдения и композиционного (элементного) анализа. Функция анализа в реальном времени отображает спектр, во время формирования изображения с помощью СЭМ. Это позволяет точно и эффективно судить о наличии асбеста*.

Пример: Пример:
Идентификация хризотила в строительных материалах.


Применение JEOL JCM-7000 при проведении исследований позволяет существенно повысить их эффективность.


Анализ инородных материалов с помощью JEOL JCM-7000 Plus NeoScope

СЭМ JCM-7000 позволяет с лёгкостью обнаружить инородный материал и определить его элементный состав.

Пример:
анализ инородного материала чёрного цвета на поверхности пищевого продукта.

Во время наблюдения пищевого продукта через оптический микроскоп на его поверхности была обнаружена субстанция чёрного цвета. Приблизив данный сегмент, мы получаем изображение СЭМ, на котором можно отчётливо различить частицы с разным контрастом, что говорит об их различном элементном составе.


Увеличив выбранную область, мы можем наблюдать спектральную диаграмму ЭДС* основных составляющих химических элементов в реальном времени.



Контроль качества с помощью JEOL JCM-7000 Plus NeoScope

С помощью СЭМ JEOL JCM-7000 возможно изучение композиционного контраста, который не может быть определён на оптическом изображении.

Пример:
наблюдение за распределением смазочного материала на поверхности гранулы фармацевтического продукта.

Изучение распределения белого смазочного материала на поверхности гранулы того же цвета при помощи оптического микроскопа является трудновыполнимой задачей. Поскольку гранула и смазочный материал имеют различный состав, распределение последнего может отчётливо наблюдаться на композиционном изображении в режиме отражённых электронов на сканирующем электронном микроскопе.


* Система ЭДС является дополнительным оборудованием


Увеличение х10 до 100 000
Увеличение дисплея х24 до 202 168
Режимы

Высокого вакуума:

Изображение вторичного электрона, изображение обратного рассеянного электрона (композиция, топография и тень, 3D-изображения)

Режим низкого вакуума:

Изображение обратного рассеянного электрона (композиция, топография и тень, трехмерное изображение)

Ускоряющее напряжение 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ (3 ступени)
Электронный источник Вольфрамовая нить / Wehnelt Integrated Gird
Cтолик

XY

Моторизованный, X: 40 мм Y: 40 мм, в т.ч. поворот и вращение

Максимальный размер образца диаметр 80 мм х высота 50 мм
Замена образцов Выдвижной механизм
Разрешение

540 x 480, 1 280 x 960,

2 560 x 1920, 5 120 x 3480

Автоматические функции Выравнивание, фокус, стигматор, яркость / контраст
Функции измерения Расстояние между 2 точками, углами, линией, шириной
Формат файла BMP, TIFF, JPEG, PNG

Вакуумная система


Система EDS-анализа

Полностью автоматическая

TMP: 1, RP: 1


SDD (кремниевый дрейфовый детектор)



Если нужно определить элементный состав, то без него не обойтись
Если нужно определить элементный состав, то без него не обойтись
Сканирующий электронный микроскоп JEOL JCM 7000 NeoScopeУсовершенствованные автоматические функции JCM-7000, автоматизация этапов и программное обеспечение позволяют легко получать изображения образцов и проводить элементный анализ для пользователей ..
Обзор электронного сканирующего микроскопа JEOL JCM-7000
Обзор электронного сканирующего микроскопа JEOL JCM-7000
По итогам демонстрации представляем Вам обзор наиболее интересных функций микроскопа со скриншотами образцов, сделанных в ходе практического применения. ..
Электронные микрофотографии и элементные карты образцов песка со
Электронные микрофотографии и элементные карты образцов песка со
[vd_section_wrapper design_margin_top='' design_margin_right='' design_margin_bottom='' design_margin_left='' design_margin_desktop_top='' design_margin_desktop_right='' design_margin_desktop_bottom='' design_margin_desktop_left='' design_margin_tabl..

Теги: Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Jeol JCM 7000 NeoScope