Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV150

Цена по запросу

Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV150

Прямые микроскопы Nikon Eclipse LV150 обеспечивают высокую производительность при решении производственных задач. Например, при входном контроле, или при поточном контроле качества изделий и материалов на производстве, что особенно важно для изделий, к которым предъявляются высокие требования по качеству.

Выпускается три модификации промышленных микроскопов Nikon Eclipse LV150:

  • LV150NA ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и в поляризованном свете. Микроскоп Nikon LV150NA может быть оснащен моторизированной системой фокусировки и возможностью установки моторизированного предметного стола (например, стол PRIOR PS III).
  • Nikon LV150NА с универсальным моторизованным револьвером идеально подходит для работ с полупроводниками, например, на производстве солнечных батарей, или полупроводниковых пластин.
  • LV150 ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и в поляризованном свете без моторизации. Микроскоп LV150 оснащен электростатической защитой класса IPX1 (защита от напряжения 10-1000 V, время стекания заряда 0,2 с.), что позволяет проводить работы с магнитными материалами.
  • LV150NL ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и в поляризованном свете без моторизации. Микроскоп Nikon LV150NL оснащен электростатической защитой класса IPX1 (защита от напряжения 10-1000 V, время стекания заряда 0,2 с.) и светодиодным источником света. Данная модель микроскопа оснащается новым LED-источником освещения, который позволяет получить более равномерное освещение поля зрения, а также снизить энергопотребление и увеличить срок службы осветителя.

Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на больших и сверхбольших расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом, парфокальное расстояние стало меньше, а размеры и вес объективов уменьшились.

Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в различных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа, что, в сочетании с высококачественной оптикой Nikon, обеспечивает гибкость и универсальность микроскопа в эксплуатации.

Элементы управления расположены в передней части микроскопа, эргономичная конструкция наклонного тринокулярного тубуса (распределение светового потока 100:0/20:80) позволяет оператору принять анатомически правильное положение и сосредоточиться на работе.

Специальный механизм рефокусировки предотвращает повреждение объектива при касании образца.

Широкий ассортимент компонентов (специализированные объективы, окуляры, револьверные устройства, ДИК призмы и д.р.) в зависимости от задач стоящих перед специалистом, позволяет получить как микроскоп для решения узкоспециализированных задач, так и создать универсальный исследовательский комплекс.

Управление револьвером расположено под предметным столиком, что предотвращает загрязнение объектива при его смене. Теперь нет необходимости касаться руками столика.

В качестве источника света для моделей серии LV150N и LV150NA используется новый прецентрированный галогенный осветитель мощностью 50 Вт.

Микроскоп Nikon Eclipse LV150 хорошо зарекомендовал себя при анализе материалов на производстве полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек и многих других изделий.


Методы исследования

Светлое поле

Темное поле

Дифференциально интерференционный контраст

Флуоресценция

Поляризация

Двухлучевая интерферометрия

Осветители Отраженный свет
Базовый блок

Максимальная высота образца: 38 мм;

Адаптер для увеличения рабочего расстояния LV-CR: 35 мм;

Слева: грубая и точная фокусировка / Справа: точная фокусировка, ход 40 мм;

Грубая фокусировка: 14 мм / оборот (с регулировкой крутящего момента, механизм перефокусировки);

Точная фокусировка: 0,1 мм / оборот (шаг: 1 мкм);

Револьвер объективов Пятиместный универсальный револьвер для работы в темном и светлом поле, а также поляризации, флуоресценции и ДИК-контраста
Эпископический осветитель

Корпус лампы для осветителя падающего света прецентрированный;

Осветитель падающего света: галогенная лампа мощностью 50 Вт, напряжением 12 В с реализованной технологией «Глаз мухи», позволяющей значительно выровнять поле освещенности и увеличить яркость освещения даже в сравнении с обычными 100Вт источниками;

Слайдер с фильтрами нейтральной оптической плотности для падающего света для уменьшения интенсивности светового потока в 4 и 16 раз;

Цветобалансирующий фильтр для падающего света

Окулярный тубус

Тринокулярный с регулировкой угла наклона окуляров;

Бинокулярный тубус

Предметный столик

LV-S32 3x2 (ход: 75 х 50 мм, стеклянная пластина)

LV-S64 6x4 (ход: 150 х 100 мм, стеклянная пластина)

LV-S6 6x6 (ход: 150 х 150 мм)

Окуляр CFI серия
Потребляемая мощность 1,2 А, 75 Вт
Вес Около 8,6 кг

ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИЗа последнее время технологии изготовления жидкокристаллических (ЖК) дисплеев получили бурное развитие благодаря их активному использованию в мобильных устройствах. ЖК-дисплеи необходимы также при производстве мультимедийн..
MEMS и NEMS
MEMS и NEMS
MEMS и NEMSВ сегодняшнем мире размеры электронных изделий и компонентов уменьшаются с каждым годом. В таких условиях MEMS (микроэлектромеханические системы) и NEMS (наноэлектромеханические системы) становятся технологическими стандартами. Устройства..
Числовая апертура и разрешающая способность
Числовая апертура и разрешающая способность
В этом руководстве исследуется влияние числовой апертуры объектива на разрешение концентрических ярких колец. ЧИСЛОВАЯ АПЕРТ..
 Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
МИКРОЭЛЕКТРОНИКАМеньше, дешевле, быстрее - то, что постоянно заботит производителей микроэлектронных устройств. В микроэлектронике каждое новое поколение продуктов должно превосходить предшественников, уменьшаясь в размерах без существенного увеличен..
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИНКак известно, избежать растрескивания и разрушения продуктов при их эксплуатации чрезвычайно сложно. Данная проблема актуальная практически для всех отраслей промышленности. Поэтому контроль качества при производстве и тестирование издел..
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВАВ данной статье пойдет речь о контроле качества изделий из металла. В данной области промышленности наравне с другими сферами производства контроль качества имеет важнейшее значение. Специалисты отдела технического контроля предприят..
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИВ металлургической промышленности, как и в других сферах производства, контроль качества продукции имеет первостепенное значение. Недостатки в качестве металла ведут к серьезным ухудшениям производительнос..

Теги: Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV150