Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV100

Цена по запросу

Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV100

Прямые микроскопы Nikon Eclipse LV100 обеспечивают высокую производительность. Например, при входном контроле или при поточном контроле качества изделий и материалов на производстве, что особенно важно для изделий, к которым предъявляются высокие требования по качеству.

Микроскоп выпускается в двух модификациях:

  • LV100DA-U ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, флуоресценции, методом ДИК и поляризованном свете. Микроскоп Nikon LV100DA-U оснащен моторизированной системой фокусировки и возможностью установки моторизированного предметного стола (например, стол PRIOR PS III). Модель LV100DA-U укомплектована 5-ти позиционным моторизованным револьвером объективов.
  • LV100ND ‑ предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и поляризованном свете без моторизации.

Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на больших и сверхбольших рабочих расстояниях, удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом, парфокальное расстояние стало меньше, а размеры и вес объективов также уменьшились.

Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в разных областях промышленности помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа, что в сочетании с высококачественной оптикой Nikon, обеспечивает гибкость и универсальность микроскопа в эксплуатации.

Элементы управления расположены в передней части микроскопа, эргономичная конструкция наклонного тринокулярного тубуса (распределение светового потока 100:0/20:80), позволяет оператору принять анатомически правильное положение и сосредоточиться на работе.

Специальный механизм рефокусировки предотвращает повреждение объектива при касании образца.

Широкий ассортимент компонентов для Nikon Eclipse LV100 (специализированные объективы, окуляры, револьверные устройства, ДИК-призмы и д.р.), в зависимости от задач, стоящих перед специалистом, позволяет получить как микроскоп для решения узкоспециализированных задач, так и создать универсальный исследовательский комплекс.


Методы исследования

Светлое поле

Темное поле

Дифференциально интерференционный контраст

Флуоресценция (только в отраженном свете)

Поляризация

Фазовый контраст (только в проходящем свете)

Двухлучевая интерферометрия (только в отраженном свете)

Осветители Отраженный свет / проходящий свет
Базовый блок

Максимальная высота образца: 38 мм;

Адаптер для увеличения рабочего расстояния LV-CR: 35 мм;

Слева: грубая и точная фокусировка / Справа: точная фокусировка, ход 40 мм;

Грубая фокусировка: 14 мм / оборот (с регулировкой крутящего момента, механизм перефокусировки);

Точная фокусировка: 0,1 мм / оборот (шаг: 1 мкм);

Револьвер объективов Пятиместный универсальный револьвер для работы в темном и светлом поле, а также поляризации, флуоресценции и ДИК-контраста
Эпископический осветитель

Корпус лампы для осветителя падающего света прецентрированный;

Осветитель падающего света: галогенная лампа мощностью 50 Вт, напряжением 12 В с реализованной технологией «Глаз мухи», позволяющей значительно выровнять поле освещенности и увеличить яркость освещения даже в сравнении с обычными 100 Вт источниками;

Слайдер с фильтрами нейтральной оптической плотности для падающего света для уменьшения интенсивности светового потока в 4 и 16 раз;

Цветобалансирующий фильтр для падающего света

Окулярный тубус

Тринокулярный с регулировкой угла наклона окуляров;

Бинокулярный тубус

Предметный столик

LV-S32 3x2 (ход: 75 х 50 мм, стеклянная пластина)

LV-S64 6x4 (ход: 150 х 100 мм, стеклянная пластина)

LV-S6 6x6 (ход: 150 х 150 мм)

Окуляр CFI серия
Потребляемая мощность 1,2 А, 75 Вт
Вес Около 8,6 кг

ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ
ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИЗа последнее время технологии изготовления жидкокристаллических (ЖК) дисплеев получили бурное развитие благодаря их активному использованию в мобильных устройствах. ЖК-дисплеи необходимы также при производстве мультимедийн..
MEMS и NEMS
MEMS и NEMS
MEMS и NEMSВ сегодняшнем мире размеры электронных изделий и компонентов уменьшаются с каждым годом. В таких условиях MEMS (микроэлектромеханические системы) и NEMS (наноэлектромеханические системы) становятся технологическими стандартами. Устройства..
 Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
Применение микроскопов NIKON в микроэлектронике
МИКРОЭЛЕКТРОНИКАМеньше, дешевле, быстрее - то, что постоянно заботит производителей микроэлектронных устройств. В микроэлектронике каждое новое поколение продуктов должно превосходить предшественников, уменьшаясь в размерах без существенного увеличен..
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИН
АНАЛИЗ ТРЕЩИНКак известно, избежать растрескивания и разрушения продуктов при их эксплуатации чрезвычайно сложно. Данная проблема актуальная практически для всех отраслей промышленности. Поэтому контроль качества при производстве и тестирование издел..
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВАВ данной статье пойдет речь о контроле качества изделий из металла. В данной области промышленности наравне с другими сферами производства контроль качества имеет важнейшее значение. Специалисты отдела технического контроля предприят..
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
МИКРОСКОПИЯ В МЕТАЛЛУРГИЧЕСКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИВ металлургической промышленности, как и в других сферах производства, контроль качества продукции имеет первостепенное значение. Недостатки в качестве металла ведут к серьезным ухудшениям производительнос..

Теги: Прямой микроскоп Nikon Eclipse LV100