Новая система iNEXIV VMA-4540 была специально разработана для объёмных образцов. Она обеспечивает длинный ход 200 мм по оси Z и рабочее расстояние 73,5 мм, что позволяет легко проводить измерения деталей среднего размера, а также одновременные измерения нескольких мелких деталей.
Стандартный 10-ти кратный оптический зум соответствует высоким требованиям оптики и обеспечивает великолепное разрешение с широким полем зрения при больших увеличениях. Низкое искажение оптики и высокая яркость белого светодиодного источника света улучшают контрастность. Эта комбинация делает возможным измерения даже ярких образцов.
Основные характеристики:
- Легкость и точность измерений, оптимизированная для трехмерных деталей
Для создания доступной автоматизированной измерительной системы специалисты Nikon использовали самые передовые цифровые технологии компании. Конструкция системы iNEXIV VMA-4540 оптимизирована для простоты использования и обеспечения достоверных и точных измерений трехмерных деталей. - Большое рабочее расстояние
Новая оптическая система обладает сверхдлинным рабочим расстоянием в 73,5 мм. Это обеспечивает достаточный зазор для измерений по оси Z даже при больших увеличениях. - Высокоскоростная точная лазерная автофокусировка (опция)
Помимо стандартной системы автофокусировки Vision AF в наличии имеется дополнительная высокоскоростная система Laser AF с длинным рабочим расстоянием в 63 мм. Она обеспечивает быструю фокусировку и измерение по оси Z независимо от оптического увеличения. - Контактные зонды / Автономное программирование 3D CAD (опция)
Оборудование iNEXIV VMA-4540 совместно с контактной системой измерения с помощью датчика Renishaw TP20/TP200 обладает дополнительными возможностями измерения трехмерных деталей. Кроме этого, новая автономная программа 3D CAD для моделирования трехмерных измерений значительно упрощает программирование измерений, выполняемых контактным датчиком. - Комплексное программное обеспечение для автоизмерений
VMA AutoMeasure является специализированным метрологическим программным обеспечением для серии NEXIV VMR. Обладает различными функциями для легкого выполнения задач - от установки, работы с обучающими программами и измерениями до оценки результатов. - Программа «сшивки» изображения EDF/Stitching и программа для инспекции множества точек (Point Cloud Inspection) (опция)
iNEXIV VMA-4540 выполняет захват совмещенных изображений с увеличенной глубиной резкости. Опциональное ПО EDF/Stitching Express позволяет последовательно архивировать цифровое изображение и получать данные множества точек для последующего анализа с помощью ПО 3D CAD Inspection / Reverse Engineering.
Перемещение по XYZ | 450×400×200 мм |
Диапазон измерения с контактными датчиками c TP и MCR20 | 400×400×166мм(TP20) |
Минимальный шаг считывания | 0.1 мкм |
Максимальные вес образца | 40 кг |
Точность (L: длина в мм) при температуре 20°С±0.5K | XY MPE E1: 2+6L/1000 мкм (c Vision AF) |
XY MPE E2: 3+6L/1000 мкм (c Vision AF) | |
Z MPE E1: 3+L/100 мкм (c лазерной AF или контактным датчиком) | |
Повторяемость (2Ϭ) | 1 мкм |
Камера | Ч/б ПЗС 1/3” с прогрессивным сканированием, |
Рабочее расстояние | 73.5 мм (63 мм для лазерной автофокусировки) |
Увеличение | 0.35 ~ 3.5× (0.52 ~ 5.2× с модулем 1.5х) |
Поле зрения | 13.3 х 10 ~ 1.33 х 1 мм (8.9 x 6.7 ~ 0.89 x 0.67 мм с модулем 1.5х) |
Автофокус | Визуальная автофокусировка Vision AF |
Осветители | Светодиодный осветитель контура (снизу) |
Видеоразрешение | 640х480 пикселей |
Контактный датчик (опция) | Renishaw TP200/TP20 |
Требования к питающей сети | AC 100-240В±10% 50 или 60 Гц |
Потребление по току | 5A – 2.5A |
Рабочие условия | Температура: от 10°С до 35°С |
Размеры и вес | Основной корпус со столом (опция): 650×700×1557 мм/110 кг |
Процессор | Intel Core2 Duo илилучше |
Память | 4 Гб или более |
Операционная система | Windows 7 32bit |
Интерфейс | USB2.0/IEEE1394 |
- Исследование и измерение геометрических параметров линзовых имплантатов
- Исследование и измерение геометрических параметров светодиодных источников света
- Исследование и измерение геометрических параметров печатных плат
- Исследование и измерение геометрических параметров электронных коннекторов
- Исследование и измерение геометрических параметров микро-электромеханических систем
- Исследование и измерение геометрических параметров многопросветных трубок
- Исследование и измерение геометрических параметров солнечных элементов