УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОП DIO 1000 SFE

  • Производитель:
Цена по запросу

Дефектоскоп DIO 1000 SFE является новой моделью из серии дефектоскопов DIO 1000 от компании "STARMANS electronics, s.r.o." (Чехия).

Дефектоскопы этой марки нашли широкое применение по всему миру благодаря инновационным решениям, высочайшей надежности и ценовой доступности относительно конкурентов подобного класса. Дефектоскоп имеет мощное программно-аппаратное обеспечение, обеспечивающее высокую скорость контроля и интуитивное управление, а режим автокалибровки позволяет значительно сократить процесс настройки.

Ультразвуковой дефектоскоп DIO 1000 SFE работает с любыми отечественными и зарубежными преобразователями.

Дефектоскоп металла DIO 1000 SFE спроектирован настолько компактным и легким, что позволяет работать буквально "с руки" в труднодоступных местах, не стесняя в движениях дефектоскописта. Электромагнитно-акустический метод в дефектоскопе дает возможность бесконтактного контроля исследуемого объекта, для этого вида контроля не играет роль шероховатость поверхности, нет необходимости ее зачищать и использовать контактную жидкость, а так же удобно в использовании для объектов сложных форм. Встроенный функционал ЭМА активирован в дефектоскопе DIO 100 SFE по умолчанию.

ЭМАП применяются для измерения толщины изделий, в том числе покрытых слоем краски или ржавчины с необязательным контактом с поверхностью (зазор до 2 мм). Этот факт также позволяет работать на поверхностях с высокой температурой.

TOFD (дифракционно-временной метод) наиболее достоверный метод контроля, который основан на взаимодействии волн с краями несплошностей. Это взаимодействие приводит к излучению дифракционных волн в широком диапазоне углов. Обнаружение дифракционных волн позволяет установить наличие несплошности. В сочетании со специальным ручным TOFD-сканером, дефектоскоп DIO 1000 SFE представляет собой мощное и недорогое решение для TOFD контроля сварных швов любого размера и любой сложности.

Основные преимущества метода TOFD от эхо-импульсного метода:

  • TOFD-метод (дифракционно-временной метод) может быть альтернативой радиографическому методу НК; Полная воспроизводимость результатов исследований;
  • Возможность измерение размеров эрозии металла на внутренней поверхности;
  • Более высокая точность при проведении исследований (±1 мм, при повторном проходе ± 0,3 мм);
  • Дефект может быть обнаружен вне зависимости от его пространственного положения; Измерение размеров и положения дефекта не зависит от амплитуды волны, только от времени её прохождения;
  • Сканирование охватывает весь объем шва вдоль одной линии, повышая эффективность и производительность контроля;
  • Возможно документирование и хранение полученных результатов контроля;
  • Внутренние дефекты в шве не вызывают искажения сигнала боковой волны, также не изменяется и сигнал, отраженный от обратной поверхности, для таких дефектов характерно наличие двух дифрагированных сигналов от нижней и верхней частей дефекта;
  • Точечные дефекты, например, пористость, вызывают появление одного или нескольких сигналов между боковой и отраженной от обратной поверхностью волнами. У них отсутствует сигнал от вершины дефекта, а так же не имеется протяженности сигнала;
  • Дефект с выходом на поверхность определяется как прерывание боковой волны, верхняя часть сигнала отсутствует, фиксируется только нижняя.

Дифракционно-временной метод обычно применяется для контроля материалов с низким уровнем затухания и рассеяния волн ультразвука, например, низколегированная и нелегированная углеродистая сталь, алюминий, аустенитная сталь.Для крупнозернистых материалов требуется дополнительная консолидация и обработка информации.



Характеристика Значение
Экран: цветной TFT, 1024 pix (Ш) х 768 pix (В)
Частота обновления экрана: минимум 60 Гц
Размеры экрана: 99x130 мм
Частота стробирования: 200 МГц, 12-бит
Диапазон температур эксплуатации: -20 °C - 60 °C
Температура складирования: -40 °C - 70 °C
Питание от сети: сеть переменного тока: 100-120 В~, 200-240 В~, 50-60 Гц
Аккумулятор: встроенная и внешняя заряжаемая LiIon батарея - 3.6 В, 16 Ач
Рабочее время батареи: не менее 10 часов, в зависимости от регулировки яркости дисплея.
Клавиатура: мультифункциональная
Поддержка языков: Русский, English, Japan, Czech, Turkish, Chinese, German. Выбор по меню, возможность дополнения языков пользователем
Память: 16 ГБ
Размеры: 224х188x34 мм
Масса: 0.74кг + 0.54 кг батарея
Требования к ПК: ПК, работающийпод Microsoft Windows Vista, Microsoft Windows XP, Microsoft Windows 2000, Microsoft Windows 7
Гарантийный срок: гарантия на 2 года (батарея не входит в гарантию). Возможность трёхлетней гарантии опционально.
Разъёмы для подключения преобразователей Lemo 01
Коммуникационные порты USB, RS232, Ethernet, Wireless Ethernet (позаказу), Bluetooth (позаказу)
Вход B-scan сигнал от энкодера A, B, старт, TTL 5 В, питание энкодера – переключаемое 5 В
Диапазон устанавливаемых скоростей ультразвука От 100 до 15240 м/с в стали
Рабочие частоты 0.5 МГц - 30МГцпри -3 дБ
Задержка от -10 до 4800 мс
Диапазон регулировки усиления (чувствительности) ультразвукового канала 111 дБ макс. и опорное усиление, регулировка с шагом по выбору 6 дБ, 1 дБ, 0.5 дБ и 0.1 дБ
Дискретность измерения толщины 0.01 мм по стали
Диапазон измерения толщины от 1 мм до 29 000 мм по стали
Демпфирование от низкого (100 В) до макс. (400 В) 50, 57, 200, и 1000 Ом
Фильтры: широкополосный, узкополосный или переключаемые полосовые фильтры - 1 МГц, 2 МГц, 2.25 МГц, 4 МГц, 5 МГц, 10 МГц
DAC (кривая амплитуда-расстояние (АРК) построение по 20 точкам, регулируемая по высоте
Глубина (амплитуда) ВРЧ (динамический диапазон) 111 дБ (71 дБ непрерывно)

Теги: УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОП DIO 1000 SFE