Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) JEOL серии JCM-6000Plus

JCM-6000Plus NeoScope – настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) от Nikon. Является совместной разработкой с компанией Jeol.

СЭМ JCM-6000PLUS предназначен для изучения образцов небольших размеров (до 70 мм в диаметре и 50 мм высотой). Компактные размеры и относительно небольшая масса этого прибора делают возможной его установку в малых помещениях или даже в мобильных лабораториях. Для работы JCM-6000 требуется всего лишь прочный, устойчивый стол и евророзетка

• Получение изображений во вторичных (SE) и отраженных электронах (BSE) в режиме высокого вакуума.
• Двухоконный режим позволяет сравнивать текущее и предварительно сохраненное изображение.
• Широкий диапазон увеличения - от самого низкого, 10х, для обзора больших участков, до 60000х.
• Режимы высокого и низкого вакуума в базе.
• Моторизированный столик для наклона и вращения (опция).
• Максимальный размер образца – 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту.
• Элементный анализ EDS. EDS поддерживает качественный/ количественный анализ и отображение – элементное распределение (опция).
• Повышенное качество изображений, полученных с помощью отраженных электронов.
• Простое наблюдение непроводящих образцов в прямом режиме низкого вакуума.
• От загрузки образца до получения изображений проходит всего 2,5 минуты.
• Простое и гибкое управление с помощью сенсорной панели.
• Полный набор автоматизированных функций (автофокус, автостигматор, автоконтрастность / яркость).
• Простая и надежная автоматическая юстировка пушки (центровка нити).
• Компактный корпус, как у оптического микроскопа.